System wizyjny do kontroli opon

Dzięki odpowiedniemu doborowi komponentów oraz wykorzystaniu zaawansowanych algorytmów przetwarzania obrazu, w tym rozwiązań opartych o deep learning (DL), możliwe jest skuteczne wykrywanie nawet bardzo trudnych do zauważenia nieprawidłowości, takich jak niezgodność oznaczenia DOT na ciemnych, pochłaniających światło powierzchniach opon.

Zadanie systemu:

• weryfikacja poprawności danych technicznych opony w systemie poprzez odczyt informacji z boku opony (sidewalla).

Kluczowym wyzwaniem projektowym było zapewnienie wysokiej jakości obrazowania bocznej powierzchni opony, co bezpośrednio wpływa na skuteczność odczytu danych. System realizuje zarówno odczyt oznaczeń, jak i weryfikację ich zgodności z informacjami zapisanymi w systemie produkcyjnym. Istotnym aspektem jest także czas realizacji procesu – pełna inspekcja, obejmująca odczyt danych z obu stron opony, odbywa się w czasie około 3 sekund. Wymaga to jednoczesnego buforowania oraz przetwarzania danych w czasie rzeczywistym.

Dodatkowym wyzwaniem jest zapewnienie stabilności działania systemu przy bardzo dużej różnorodności kontrolowanych produktów. Opony różnią się zarówno wymiarami, jak i właściwościami powierzchni, co wpływa na warunki obrazowania i jakość pozyskiwanych danych. System został zaprojektowany tak, aby obsługiwać szeroki zakres średnic zewnętrznych od 400 do 1000 mm oraz wysokości opon w zakresie od 90 do 400 mm.

Dane odczytywane przez system:
• nazwa producenta opony,
• nazwa modelu,
• kod umożliwiający odczytywanie daty produkcji,
• homologacje na kraje Unii Europejskiej,
• zerokość opony, wysokość profilu, oznaczenie radialnej konstrukcji opony, średnica obręczy, indeks nośności i prędkości, oznaczenie opony
• wzmacnianej,
• kraj produkcji,
• oznaczenie „Run Flat”,
• oznaczenie „M + S” („Mud + Snow”)

Średni czas analizy zdjęć opon poddanych kontroli wynosi około 850 ms, co pozwala na efektywne działanie systemu w warunkach przemysłowych. Maksymalna prędkość linii, przy której możliwa jest prawidłowa detekcja, wynosi 1 m/s. System jest w stanie odczytać i przeanalizować łącznie 23 typy informacji alfanumerycznych, co potwierdza jego wysoką dokładność oraz zaawansowanie technologiczne.